Recubrimientos y láminas delgadas

Los recubrimientos y láminas delgadas están diseñados y desarrollados para establecer o modificar las diferentes características superficiales. En muchos casos la relación entre la estructura, la morfología y las propiedades de los materiales es indispensable para la optimización del diseño del material. Los microscopios de WITec están particularmente bien adaptados para contribuir al análisis de muestras de y películas delgadas y de sistemas de recubrimiento de multiples capas, por medio de la visualización de la distribución de los componentes químicos y las propiedades físicas de los diferentes componentes de los materiales.

Para la investigación de recubrimientos y películas delgadas, la alta resolución de los microscopios es de enorme importancia, en la diferenciación de capas finas en la dirección z. Debido a la resolución de profundidad que dependen en gran medida de la confocalidad del microscopio, los microscopios de Witec están específicamente diseñados  para proporcionar un rendimiento excepcional en la proyección de imagen confocal en exploraciones de profundidad.

Los instrumentos altamente versátiles de WITec pueden combinar varias técnicas de imágenes para incrementar significativamente los conocimientos proporcionados por los resultados de la medición. Las combinaciones posibles que pueden ser incluidas en una configuración son: microscopio Raman confocal de imágenes, microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). Las imágenes Raman-Confocal ofrecen información química, AFM registra la topografía, la estructura y las propiedades físicas de la superficie, como rigidez y adherencia, SNOM permite medidas de alta resolución superando el límite de difracción. Todas las configuraciones de instrumento de WITec pueden ampliarse en cualquier momento para adaptar el sistema a nuevos requerimientos o actualizarlo a nuevas tecnologías y desarrollos.