alpha300 A – Microscopio AFM

Caracterización de Superficies a Escala Nanométrica

El Microscopio de Fuerza Atómica alpha300A de WITec está especialmente diseñado para investigación de materiales, nanotecnología y ciencias de la vida. Integra un microscopio óptico para alinear el cantilever de forma sencilla e inspeccionar la muestra con imágenes de alta calidad y resolución.

Es compatible con todos los modos estándar de AFM, lo que garantiza una alta flexibilidad en un gran rango de aplicaciones. Este sistema modular permite la aplicación a otras técnicas como la microscopía Confocal, microscopía Raman Confocal e incluso SNOM, permitiendo un estudio más completo de la muestra. El usuario puede alternar fácilmente entre los diferentes métodos, simplemente girando la rueda de objetivos del microscopio.

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Características Principales

Caracterización de la superficie a escala nanométrica
Resolución Lateral: < 1 nm
Resolución Topográfica: < 0.3 nm
Incluye una amplia gama de modos de AFM
Fácil acceso a la muestra en cualquier dirección
Simple de usar tanto en aire como en líquido
Tecnología única en la manipulación del cantilever, permite un ajuste fácil y cómodo
Mesas de barrido piezoeléctricas, precisamente controladas con TrueScan™, permite seleccionar dentro de un variado rango de barridos: 30 x 30 x 20 µm³; 100 x 100 x 20 µm³; o 200 x 200 x 20 µm³
Técnica de imagen no destructivo con una preparación mínima de la muestra y en la mayoría de los casos sin ninguna preparación
Puede combinarse con sistema de imágenes Raman Confocal y Microscopía de Campo Cercano (SNOM) en el mismo microscopio

Ejemplos de aplicación

Imagen Topográfica en AFM del esternónde una Oniscidea adulta (Porcellio scaber).

alpha300A magnetic force mode hard drive

Medición de los dominios magnéticos del disco duro de un computador. Las mediciones se realizaron mediante técnica de modo AC utilizando cantilevers con puntas magnetizadas.

Imagen digital del modo de fuerza pulsada de bacterias fosilizadas. La imagen muestra la diferencia en los niveles de adherencia en la superficie de la muestra.

Especificaciones

Modos de Operación:

Modo contacto
Modo Acústico (Tapping Mode)
Mode de Fuerza Pulsada (DPFM)
Microscopía de Doble Paso (Lift Mode™)
Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM)
Imágenes de Fase
Curvas de Fuerza Distancia
Litografía y Nano-manipulación (DaVinci)
Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
Microscopía de Fuerza Química (CFM)
Otros Modos Opcionales

Características del Microscopio:

Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
Sistema de Video: Camara de video CCD
Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y, rango de 25 mm
Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones.
Mesa de barrido piezoeléctrica (rango de barrido 100 x 100 x 20 µm³; otros opcionales)

Cantilevers de AFM:

Sistema de posicionamiento mecánico inercial para controlar el desplazamiento de los cantilevers de AFM
Permite el uso de la mayoría de los cantilevers disponibles en el mercado

Sensores:

Cantilevers AFM para modo Acústico AC, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos
Cantilevers AFM para modo Contacto, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos

Tamaño de Muestras:

Usualmente 120 mm en dirección x-y, 25 mm em altura (adaptadores para mayores alturas disponibles)

Interfase Computacional

Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos

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