Tareas vitales en ciencia forense incluyen el análisis microscópico de objetos muy pequeños con el fin de verificar con exactitud la fuente de los compuestos específicos dentro de una muestra, o para comparar las propiedades de varias muestras. Los microscopios de WITec permiten el análisis de la muestra global y proporciona una caracterización exhaustiva de las propiedades físicas y químicas de distintas muestras en ciencia forense. El microscopio Raman-Confocal, por ejemplo, es una herramienta muy eficaz para estas investigaciones, ya que obtiene información sobre la composición química, así como la distribución espacial de los componentes. Las muestras por lo general no requieren preparación específica y permanecen inalteradas para investigaciones con otros métodos debido a que la microscopía Raman es una técnica de análisis no destructivo, sin contacto y no contaminante.
Los instrumentos altamente versátiles de WITec pueden combinar varias técnicas de imágenes para incrementar significativamente los conocimientos proporcionados por los resultados de la medición. Las combinaciones posibles que pueden ser incluidas en una configuración son: microscopio Raman confocal de imágenes, microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). Las imágenes Raman-Confocal ofrecen información química, AFM registra la topografía, la estructura y las propiedades físicas de la superficie, como rigidez y adherencia, SNOM permite medidas de alta resolución superando el límite de difracción. Todas las configuraciones de instrumento de WITec pueden Extenderse en cualquier momento para adaptar el sistema a nuevos requerimientos o actualizarlo a nuevas tecnologías y desarrollos.
