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El diseño modular de los sistemas de microscopía WITec permite combinar varias técnicas de adquisición de imágenes, como imagen Raman Confocal, fluorescencia, luminiscencia, microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM o NSOM) y la microscopía electrónica de barrido en un solo instrumento, sin comprometer la calidad del análisis ni de las imágenes.
El software integrado de WITec permite controlar las mediciones con facilidad, correlacionar los resultados de forma rápida y sencilla y superponer distintas imágenes.
La combinación Raman-SEM (RISE) es una técnica única de microscopía correlativa proporcionada por WITec. Las estructuras en el rango de los nm detectadas por la microscopía electrónica de barrido (SEM) pueden correlacionarse con las imágenes químicas Raman de la misma zona de la muestra.
Combinando la imagen confocal Raman con la de AFM, se puede relacionar la composición química de la muestra con las características de la superficie. Estas dos técnicas complementarias están disponibles en los microscopios combinados Raman-AFM de WITec para una caracterización de muestras flexible y completa.
Más información sobre el microscopio Raman-AFM alpha300 RA de WITec
La combinación de la caracterización Raman con SNOM para la obtención de imágenes que superan el límite de difracción óptica, proporciona resultados significativos incluso para los requisitos experimentales más exigentes.
Más información sobre el microscopio Raman-SNOM alpha300 RS de WITec
Imágenes Raman topográficas de una sola pasada (Microscopía TrueSurface) para operaciones en muestras rugosas o inclinadas.
Más información sobre la Microscopía de Perfiles TrueSurface de WITec
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