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Los sustratos estructurados se emplean extensamente en semiconductores como en investigación y desarrollo de la energía solar fotovoltaica. Las altas exigencias en cuanto a la calidad y fiabilidad de los dispositivo hacen que sea cada vez más importante tener un conocimiento detallado de las tensiones inherentes y las propiedades cristalinas de dichas estructuras. Las técnicas de imagen de WITec brindan la oportunidad de analizar las muestras de forma exhaustiva con respecto a sus características químicas y físicas.
Los instrumentos altamente versátiles de WITec pueden combinar varias técnicas de imagenes para incrementar significativamente los conocimientos proporcionados por los resultados de la medición. Las combinaciones posibles que pueden ser incluidas en una configuración son: microscopio Raman confocal de imágenes, microscopia de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM) y microscopia electrónica de barrido (SEM). Las imagenes Raman-Confocal ofrecen información química, AFM registra la topografía, la estructura y las propiedades físicas de la superficie, como rigidez y adherencia, SNOM permite medidas de alta resolución superando el límite de difracción. Todas las configuraciones de instrumento de WITec pueden Extenderse en cualquier momento para adaptar el sistema a nuevos requerimientos o actualizarlo a nuevas tecnologías y desarrollos.
Si quiere saber más sobre las posibilidades que ofrece el Raman Imaging para su campo de aplicación, uno de nuestros especialistas estará encantado de contactarle para poder hablarlo con usted.
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