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Las baterías recargables proporcionan la energía para muchos dispositivos electrónicos que utilizamos a diario, como teléfonos móviles, tabletas y ordenadores portátiles, y los coches eléctricos que se están convirtiendo en algo habitual. Debido a la gran demanda de almacenamiento eficaz de energía, la investigación industrial sigue desarrollando baterías con propiedades optimizadas en cuanto a velocidad de carga, densidad energética y vida útil. Los sistemas de imagen de WITec permiten la caracterización completa de las baterías. Las imágenes Raman pueden mostrar la distribución de los materiales del electrolito y del electrodo e investigar su cristalinidad. Puede combinarse con técnicas de imagen complementarias para estudiar, por ejemplo, las estructuras superficiales.
En 2019, el desarrollo de las baterías de iones de litio fue reconocido con el Premio Nobel de Química para John B. Goodenough, M. Stanley Whittingham y Akira Yoshino. El grupo de investigación de John B. Goodenough en la Universidad de Texas en Austin utiliza un microscopio Raman WITec alpha300 para su trabajo científico.
La manipulación de muestras bajo atmósferas protectoras como el nitrógeno o el argón es necesaria para muchos procesos de producción como, por ejemplo, las industrias de semiconductores y automotriz. Los microscopios WITec pueden estar equipados con componentes automatizados que permiten el funcionamiento a distancia dentro de compartimentos ambientales (Gray et al. 2020, DOI: 10.1063/5.0006462). Todos los pasos de la medición Raman se controlan con el software Suite FIVE de WITec y el intuitivo control remoto EasyLink. Incluso es posible la autoalineación y la autocalibración del sistema con sólo pulsar un botón.
Los instrumentos altamente versátiles de WITec pueden combinar varias técnicas de imagen para proporcionar información complementaria desde la misma región de la muestra. Entre las posibles combinaciones que pueden integrarse en un sistema de microscopía se encuentran las de imagen Raman Confocal, la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), la Microscopía Óptica de Campo Cercano (SNOM) y la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM). La microscopía Raman Confocal proporciona información química y las imágenes de fotoluminiscencia pueden obtenerse sin necesidad de añadir nada a la configuración. La AFM detecta la topografía, la estructura y las propiedades físicas, como la rigidez y la adhesión. El SEM muestra la estructura de la superficie a muy alta resolución. Las mediciones de alta resolución de SNOM pueden superar el límite de difracción óptica. Además, se ofrecen soluciones para el recuento de fotones individuales en función del tiempo (TCSPC) o las mediciones topográficas. Todas las configuraciones de instrumentos de WITec pueden ser ampliadas en cualquier momento para adaptar el sistema a requisitos nuevos o adicionales.
Si quiere saber más sobre las posibilidades que ofrece el Raman Imaging para su campo de aplicación, uno de nuestros especialistas estará encantado de contactarle para poder hablarlo con usted.
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