Microscopía Correlativa

El diseño modular de los microscopios WITec permite combinar varias técnicas de imagen, como imágenes Raman, fluorescencia, fotoluminiscencia, microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM) y microscopía electrónica de barrido (SEM) en un solo instrumento para realizar un análisis más completo de la muestra. El cambio entre los distintos modos puede realizarse simplemente girando la revolver del microscopio, o desplazando la muestra entre las posiciones de medición en los sistemas de SEM correlativo (microscopía RISE).