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alpha300 RA – Microscopio Raman-AFM

Combinación de Imágenes Químicas y Estructuras Nanométricas en un Solo Instrumento

La reconocida combinacion de Raman-AFM (alpha300 RA) fue el primer sistema del mercado en integrar Raman con Microscopía de Fuerza Atómica y continúa estableciendo el estándar para instrumentos configurados para microscopía correlativa de Raman con AFM. El microscopio alpha300 RA incorpora las características del microscopio Raman alpha300 R, para la generación de imágenes con sensibilidad química, en conjunto con un microscopio de Fuerza Atómica (alpha300 A) para la caracterización de la superficie con resolución nanométrica. Así, la correlación de imágenes Raman con AFM, facilita el estudio en profundidad de las muestras.

Con el alpha300 RA, las dos técnicas de imágenes complementarias, se encuentran disponibles en un solo instrumento, sin comprometer funcionalidades, y son controlados por un único software, lo que lo convierte en un sistema más confiable y fácil de usar.

Alternar entre cada una de las técnicas de imágenes sólo requiere un giro en la rueda de objetivos, con esto, todos los parámetros de la imágen se ajustan automáticamente permitiendo fácilmente el estudio sobre la misma región de la muestra, con ambas técnicas. El software también permite sin esfuerzo, correlacionar y sobreponer los resultados de Raman con AFM.

Además, el diseño del apha300 RA es ideal para mediciones TERS (Raman-AFM de alta resolución)


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Características


Ejemplos de aplicación

alpha300RA Raman AFM polymers
Combined Raman-AFM measurement of the same sample area of a multicomponent polymer blend consisting of a 1:1:1 mixture of polystyrene, SRB (styrene-butadiene-rubber) and EHA (ethylhexal acrylate). Raman image (left): green = PS, red= SRB, blue = EHA.
alpha300RA Raman AFM paper
Confocal Raman AFM images of traces of wood extractives on cellulose fibers. From the Raman spectra the distribution of two phases of cellulose (green, blue) and of hexane extratives (red) were imaged. The AFM phase image (inlay) shows a clear structural distinction between cellulose and hexane extractives. Raman image area 20 μm x 40 μm, 80x160 pixels, integration time: 100 ms/spectrum.
alpha300RA Raman AFM stress in silicon
Correlative Raman-AFM microscopy of stress in silicon. Left: 10 μm x 10 μm AFM topography image and depth profile (bottom). Right: Corresponding Raman image revealing the stress areas in silicon. Confocal Raman image of the 1st order Si line (left) and the intensity profile along the cross section marked in blue (right).

Especificaciones

Modos Generales de Operacion Raman

  • Imágenes espectrales Raman: Adquisición de un espectro Raman completo en cada pixel de la imagen.
  • Adquisición de espectros Raman en un punto individual
  • Series temporales
  • Perfil de profundidad sobre un punto (1D)
  • Imágenes planas (dirección x-y) y barridos en profundidad (dirección x-z) con posicionamiento automático de la muestra (2D)
  • Image Stack: Generación de imágenes Raman Confocales en 3D.
  • Espectrómetro UHTS, acoplados con fibra óptica, específicamente diseñados para microscopía Raman y aplicaciones con baja señal luminosa
  • Microscopía Confocal de Fluorescencia
  • Microscopía de Campo Brillante

 

Modos Generales de Operación AFM

  • Modo contacto
  • Modo Acústico (Tapping Mode)
  • Modo de Fuerza Pulsada (DPFM)
  • Microscopía de Doble Paso (Lift Mode™)
  • Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
  • Microscoípa de Fuerza Eléctrica (EFM)
  • Imágenes de Fase
  • Curvas de Fuerza Distancia
  • Litografía y Nano-manipulación (DaVinci)
  • Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
  • Microscopía de Fuerza Química (CFM)
  • Modo de Sensibilidad de Corriente
  • Otros Modos Opcionales

 

Características Básicas del Microscopio

  • Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
  • Sistema de Video: Cámara de video CCD
  • Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
  • Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y
  • Acoplamiento con fibras ópticas
  • Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones

Modos Opcionales de Operación Raman (Upgrades)

  • Láseres adicionales, amplia variedad de longitudes de onda disponibles
  • Espectrómetros UHTS adicionales (UV, VIS, NIR, IR)
  • Automatización, posicionamiento motorizado de la muestra y medición con mesa de barrido piezoeléctrica
  • Obtención de imágenes Raman automatizadas
  • Mediciones de múltiples puntos y múltiples áreas automatizados
  • Imágenes Raman Ultra rápidas, disponible opcionalmente
  • Upgrade para aplicaciones de epi-fluorescencia
  • Permite adaptadores para muestras de mayor altura
  • TrueSurface para perfil de profundidad con Raman
  • Autofoco

 

Interfase Computacional

  • Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos.

 

TERS

El alpha300 RA de WITec es el único sistema de microscopía que combina las técnicas de Raman y AFM en un sólo instrumento, esto lo convierte en un instrumento optimizado para experimentos TERS.

 

Las ventajas del WITec en TERS

  • Integración única de las técnicas Raman-AFM por un sólo fabricante para realizar experimentos TERS confiables.
  • Flexibilidad en la iluminación de la muestra (iluminación superior, iluminación lateral o iluminación inferior)

Contacto

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