Microscopios de Sonda de Barrido

Las soluciones de microscopía de barrido de la línea alpha300 ofrecen una caracterización estructural y óptica de alta resolución. Muchos modos de AFM bien establecidos pueden integrarse tanto con el microscopio de fuerza atómica (AFM), alpha300 A, como con el microscopio óptico de campo cercano de barrido (SNOM), alpha300 S. También cuentan con un microscopio de luz blanca de grado de investigación para el estudio de muestras de alta resolución y toda la gama de opciones de manipulación de muestras de la serie alpha300. El alpha300 S utiliza robustas y cómodas puntas en cantilever con aberturas como sensores SNOM.