Las Técnicas de WITec

Los sistemas de microscopía de WITec permiten el análisis no destructivo, mediante métodos analíticos como Raman, Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopía Óptica de Campo Cercano (SNOM).  Utilizamos nuestra experiencia de años de investigación para continuar desarrollando nuestro innovador sistema de imagen, consiguiendo la mayor eficiencia.
Independiente si usted está interesado en un dispositivo estándar o en un instrumento para microscopía correlativa, WITec es el proveedor con más experiencia y la elección correcta para la obtención de imágenes de alta resolución.

Nuestras Principales Técnicas son:

Microscopía Confocal Raman: Método de espectroscopía para el análisis químico de los componentes de las muestras.

Microscopía de Fuerza Atómica: Método de imágenes de alta resolución para la representación de la topografía de la muestra y sus propiedades.

Microscopía de Campo Cercano: Método de imagen óptica con una resolución que supera el límite de difracción óptica (típicamente entre 60-100 nm de resolución lateral)